Analysatorer för halvledareparameter

• Begagnad Semiconductor Parameter Analyzer Agilent 4156 C

  Keysight / Agilent 4156 C Precision Semiconductor Parameter Analyzer tillhandahåller mycket noggranna laboratorieparameteranalysatorer för avancerad enhetskarakterisering.

• Begagnad pulsgeneratorexpansionsenhet Agilent 41501B

  Agilent / HP 41501B SMU och Pulse Generator Expansion Unit används för att förbättra mätkapaciteten hos 4155A, 4155B, 4155C, 4156A, 4156B och 4156C.

• Begagnade HPSMU Agilent B 1510 A

  Källa / måttenheter (SMU), till exempel Keysight B 1510 A (Agilent), är nyckelmätningsmodulerna för Agilent / Keysight B 1500 A Semiconductor Device Parameter Analyzer.

• Begagnad vågform generatorenhet modul Agilent B1530A

  Keysight B1530A Waveform Generator / Fast Measurement Unit Module (WGFMU) är perfekt för ultrasnabb IV, pulsade IV och övergående IV mätningar

• Används högupplösta källmonitorenhet Agilent B 1517 A

  Produktöversikt
  Enhet med hög upplösningskälla

• Använt medelströmskällmonitorenhet Agilent B 1514 A

  MCSMU

• Begagnad Mid Power Source Monitor Unit Agilent B 1511 A

  Mid Power Source Monitor Unit

• Begagnad pulsgeneratorenhet Agilent B 1525 A

  Agilent B 1525 A, pulsgeneratorenhet

• Används höghastighetsmätning Stordator Agilent E5260A

  Keysight E5260A 8-Slot High Speed Measurement Mainframe sänker din testkostnad genom att tillhandahålla en snabb parametrisk testlösning för halvledar-, RFIC- och optisk komponenttestning.

• Begagnad övervakningsenhet för hög hastighet källa Agilen...

  Keysight E 5262 En källmonitorenhet tillhandahåller en höghastighetsparametrisk testlösning för behov av testning av halvledare, RFIC och optiska komponenter.

• Begagnade Parametric Mätsystem Stordator Agilent E5270B

  Agilent E5270B 8-Slot Parametric Measurement Mainframe är helt användaren konfigurerbar. Du kan installera upp till åtta moduler med en enda plats (t.ex.

• Begagnade HPSMU Agilent E 5280 B

  Keysight E 5280 B är en HPSMU (High Power Source / Mätningsenhet) som fungerar med E 5270 B Parametric Measuring System Mainframe, 8-Slot.